产品中心/ products

您的位置:首页  -  产品中心  -    -  NSG3040  -  surge浪涌测试仪
surge浪涌测试仪
简要描述:

surge浪涌测试仪具有以太网端口,可接受来自个人电脑的外部控制。Windows软件简化了测试程序并允许为各种类型的测试编写复杂的测试序列。在测试进程中,操作人员可以进行观察并在测试操作中生成测试报告,以此增加测试的效率。

  • 产品型号:
  • 更新时间:2025-04-28
  • 访问量:230
产品详情

surge浪涌测试仪介绍:

Teseq公司的NSG 3040是抗扰度测试中的模拟电磁干扰影响的多功能发生器,它操作简便、具有多种功能,满足企业、国内和标准(包括的IEC/EN标准)和CE标志测试的传导EMC测试要求。NSG 3040采用了特测公司设计理念包含了电子快速瞬变(EFT)和电能质量测试 (PQT)。丰富的扩展功能使该系统提供更广泛的应用配置范围。

创新的模块化设计-NSG 3040是多用途系统,可以按照基本测试要求配置和扩展以满足复杂的测试实验室的需求。成熟的“主—从”概念技术使得单个脉冲模块能够独立校准,并将校准资料和修正系数存储于从控制器上。新模块安装简便,无需返回整NSG3040个系统进行校准。

由于采用技术组件,NSG 3040在开关切换技术和相位精度方面建立了新的标准,并且超越了现行标准的要求。高画质及对比度的7“大彩色触摸显示屏使得NSG 3040的操作非常简便。根据要求,既可以通过一体化键盘也可以用带有灵敏度调整键的滚轮来进行输入。此外,在开发环境下,通过内置的TA(测试程序调用)功能,几个“点击”就能激活标准测试,迅速、可靠地得到结论性结果。

便捷的触摸按钮使输入的每个参数的值非常明显,并允许用户快速选择和修改所有的设置。该操作不需要触控笔,测试参数可以迅速、简便地编辑出来。可以简便地进行多步骤测试程序的增加、程序次序及参数值的修改。在“专家模式”下,用户可以在测试中使用滚轮进行手动参数修改,从而有效、迅速地简化激活关键阈值。

通过SD读卡器可迅速进行固件下载。可以完整的保存由用户的测试。在存储空间不够的特殊情况下,可用市场购买的SD记忆卡更换该记忆卡,而存放其中的测试文件可被轻松复制进更大内存的SD卡中。

具有以太网端口,可接受来自个人电脑的外部控制。Windows软件简化了测试程序并允许为各种类型的测试编写复杂的测试序列。在测试进程中,操作人员可以进行观察并在测试操作中生成测试报告,以此增加测试的效率。

surge浪涌测试仪参数:

浪涌组合波脉冲1.2/50~8/20µs(组合浪涌脉冲) — CWM 3450

脉冲符合IEC/EN 61000-4-5, GB/T 17626.5标准

NSG3040用于CE应用的灵巧型4KV解决方案

脉冲电压(开路):±200V–4.4kV(以1V为步长)

脉冲电流(短路):±100A–2.2kA

阻抗:2/12Ω

极性:正/负/交替

脉冲重复周期:10s–600s(以1s为步长)

测试时间:1至9999个脉冲,不间断

相位同步:异步、同步0–359°(以1°为步长)

耦合:外部/内部

快速瞬变脉冲群测试 (EFT) 5/50ns—FTM 3425

脉冲符合IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4标准

脉冲幅度:

±200V–4.8kV(以1V为步长)—开路

±100V–2.4kV(50Ω匹配系统)

脉冲群频率:100Hz–1000kHz

极性:正/负/交替

重复时间:1ms–4200s (70min)

脉冲群时间:1us–1999s,单脉冲,不间断

测试时间:1s–1000h

相位同步:异步、同步0-359°(以1°为步长)

耦合:外部/内部

电压暂降和电压跌落 — PQM 3403

符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11标准

电压暂降&电压跌落:从EUT输入电压跌至0V、0%

选配可选自耦变压器的Uvar:取决于型号(VAR 3005)

选配步进式变压器的Uvar:0、40、70、80% (INA650x)

峰值冲击电流能力:500A (230V时)

开关时间:1–5µS(100Ω负载)

周期时间:20us至1999s、循环1至99’999次

测试时间:1s–70’000min,1至99’999个周期,不间断

重复时间:40µs–35min、循环1至99999次

相位同步:异步、同步0–359°(以1°为步长)

电压变化测试(仅与VAR 3005系列调压器配合使用)

符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11标准

带有可选自耦变压器的0–265V(以1V为步长)、0–115%(以1%为步长)

重复时间:1ms–35min,循环1–99999次

测试持续时间:1ms–5s,循环1至250周期(50Hz)

重复时间:10ms–10s;1–250周期(50Hz),1–300周期(60Hz)

测试持续时间:1s–99999min、1–99999个事件、不间断

相位同步:异步、同步0–359°(以1°为步长)

与INA753和INA701或702共同产生的脉冲磁场

符合IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9标准

场强:1–1200A/m (以1A/m为步长)

极性:正/负/交替

重复时间:5s–10min (以1s为步长)

阻抗:2Ω

线圈因数:0.0 –50.00

测试时间:1– 9’999个脉冲,不间断

相位同步:异步、同步0–359°(以1°为步长)

EUT供电:单相

EUT VAC:24至260Vrms,50/60Hz (相线—中线),大400Hz

EUT VDC:0至260VDC

EUT电流:

1x16Arms,不间断(温度监控)

1x25Arms,1分钟

EFT(脉冲群) 将所有的线与参考地进行标准耦合(GND)    

 

 

 
在线咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
公司简介  >  在线留言  >  联系我们  >  
产品中心
NSG3040

CONTACT

办公地址:上海市虹口区四川北路1688号福德大厦南楼805

TEL:021-62068083

EMAIL:yangyu@birdtom.com
扫码加微信
版权所有©2025 上海博统科学仪器有限公司 All Rights Reserved   备案号:沪ICP备17017482号-4   sitemap.xml技术支持:化工仪器网   管理登陆

TEL:13774433595

扫码加微信